|
Компьютерные технологии металлографического контроля
Курсы повышения квалификации проводятся для специалистов-металловедов и
начальников лабораторий металлургических и машиностроительных
предприятий. По окончании курсов выдается свидетельство государственного образца.
Необходимость и актуальность данного курса обусловлена стремительным
прогрессом в применении цифровых технологий в микроскопии для решения
задач материаловедения. На любом уровне инструментальной регистрации
изображений (макро-, микро-, нано-) носителем информации о материале
остается структура. Получив численную регистрацию, она становится
более информативной - ее легко описать количественными характеристиками,
смоделировать эволюцию, передать данные для участия в других
технологических и информационных процессах. Поэтому тематика курса
связана с вопросами, оперирующими понятием структура в цифровом
виде: применение систем регистрации и анализа изображений,
закономерности формирования структуры, получение количественных
характеристик структуры, метрология и стандартизация в материаловедении.
Программа курсов
 |
Современные методы металлографии
Экспериментальные методы определения структуры. Введение в
микроскопию (ОМ, ЭМ, РЭМ, ПЭМ, АСМ, ТМ). Современные тенденции в
развитии оптической микроскопии. Металлографические микроскопы.
Цифровая микроскопия. Пробоподготовка в микроскопии |
 |
Закономерности формирования структуры в сплавах
Типы и морфология микроструктур. Перлитное превращение в стали.
Структура и фазовые превращения в сплавах титана. Структура и
свойства высокоазотистых аустенитных сталей. Структура
наноматериалов. Компьютерное моделирование структурообразования в
материалах |
 |
Стандартизация в контроле микроструктуры
Менеджмент качества металлургической продукции, ISO. Сертификация
металлографических лабораторий. Документооборот и управление в
металлографическом контроле, структурная карта изделия |
 |
Измерение в количественной металлографии
Проблема метрологии в металлографическом контроле. Количественная
взаимосвязь "состав-структура-свойства". Multiscale-подход в
металлографии. Источники погрешностей в цифровой микроскопии |
 |
Цифровая микроскопия и анализ изображения
Технология электронных таблиц SIAMS, SIMAGIS в анализе
изображения. Автоматизированные методики анализа изображения и
контроля структуры. Обзор решений металлографических задач в анализе
изображений. Анализ зерна в сплавах. Контроль содержания
неметаллических включений |
 |
Демонстрация возможностей анализаторов SIAMS на базе исследовательских микроскопов Leica. Практические занятия по анализу изображений |
Период и порядок обучения
Курсы состоят из двух этапов:
|
Заочное (дистанционное) обучение |
лекции, практические занятия, тестовые задания |
|
Очное обучение |
лекции, семинары, лабораторные работы, отчетная выпускная работа |
Суммарный объем программы – 102 час
Оплата обучения
Оплата производится безналичным расчетом после заполнения
заявки на обучение.
Бланк заявки в формате Word можно заполнить и отправить по факсу (343) 379-00-34 (35) или по электронной почте
dm@siams.com
Кадровый потенциал курсов
Обучение проводится на базе ИКМАД УГТУ-УПИ с привлечением
преподавателей высокой квалификации и ведущих специалистов отраслевых институтов.
|
Счастливцев В.М. - академик РАН, зав. лабораторией Физического
металловедения Института физики металлов УрО РАН |
|
Попов А.А. - д.т.н., профессор, зав. кафедрой Термообработки и
физики металлов УГТУ-УПИ |
|
Гроховский В.И. - к.т.н., доцент кафедры Физические методы и приборы
контроля качества УГТУ-УПИ |
|
Березовская В.В. - д.т.н, профессор кафедры Металловедения УГТУ-УПИ |
|
Гладковский С.В.– д.т.н., Институт машиноведения УрО РАН |
|
Шур В.Я. - д.ф.-м.н., зав. лабораторией Института физики и прикладной математики УрГУ |
|
Коган Л.А. – к.т.н., заведующий отделом стандартизации
и аттестации ВУХИН |
|
Рабовский В.А. – к.т.н., директор Центра стандартизации, метрологии
и сертификации продукции
ОАО "Уральский институт металлов" |
|
Добужская А.Б. - к.т.н., зав. лабораторией Металловедения ОАО
"Уральский институт металлов" |
|
Шульгин Д.Б. - к.ф.-м.н., директор Учебно-научного центра интеллектуальной собственности |
|
Мальцева Л.А. - к.т.н., доцент кафедры металловедения УГТУ-УПИ |
|
Кадушников Р.М. - к.ф.-м.н., директор ИКМАД УГТУ-УПИ |
|
Яковлев Ю.Р. – к.т.н., технический директор компании SIAMS |
|
Хватьков В.В. - президент компании Smart
Imaging Technologies (США) |
Контакты
По всем интересующим Вас вопросам обращайтесь к администратору курсов
Абрамовой Наталии Валерьевне
Тел.: (343) 379 00 34 (35,36)
E-mail: natasha@siams.com
|
