Компания SIAMS предлагает комплекс решений для многомасштабного анализа изображений нанообъектов,
наноструктур и наноматериалов. Направления применения
 |
Многомасштабный анализ
наноразмерных объектов и структур |
|
Цифровая микроскопия (методы СЭМ,
ПЭМ, СЗМ, конфокальная и оптическая микроскопия) |
|
|
Контроль качества наноматериалов |
Системы анализа изображений и управления
данными
SIAMS-CP Nanotech
Аналитический комплекс для
многомасштабного автоматизированного анализа изображений
нанообъектов, наноструктур и наноматериалов.
Многомасштабное моделирование
NanoModel
Учебно-методический комплекс "Многомасштабное моделирование в нанотехнологиях"
|
