SIAMS-CP Layers. Автоматизированный анализ слоев и покрытий
Группа решений, предназначенных для автоматизированного анализа геометрических характеристик слоев и покрытий в различных материалах.
Анализ производится по произвольному числу полей зрения с накоплением и статистической обработкой результатов.
Пользователь имеет возможность производить настройку параметров обработки изображения на каждом этапе обработки, а также проводить коррекцию выделенных и классифицированных объектов.
После выполнения методики автоматически генерируется отчёт в формате MS Word, который включает в себя результаты анализа (таблицы, графики и примеры изображений микроструктуры). Форма отчёта может быть изменена в соответствии с запросами пользователя.
Измеряемые параметры
 |
Средняя толщина слоя/покрытия |
|
|
Минимальная толщина слоя/покрытия |
|
|
Максимальная толщина слоя/покрытия |
|
|
Гистограмма распределения значений толщины |
Пример анализа
 |
 |
 |
|
Исходное изображение |
Выделенный слой |
Гистограмма распределения толщины слоя |
