Главная > Продукты > SIAMS-CP Multiscale Modeling

В продукте SIAMS-CP Multiscale Modeling* реализован передовой метод многомасштабного моделирования наносистем с иерархической системой организации, содержащих упорядоченные или неупорядоченные ансамбли элементов разных размеров и архитектур.

Уникальные алгоритмы структурно-имитационного моделирования и анализа учитывают широкий диапазон временных и размерных эффектов, происходящих при самоорганизации ансамблей наночастиц в одно-, двух- и трехмерные структуры.

• Наноуровень
  Моделирование структуры и свойств нанообъектов с учетом межчастичного взаимодействия
• Микроуровень
  Моделирование структуры с учетом взаимодействия коллоидных частиц с раствором, внешними полями и т.п.
• Макроуровень
  Анализ получаемых структур и материалов

Программа SIAMS-CP Multiscale Modeling позволяет задать внутренние и внешние условия процессов самоорганизации и самосборки для получения структуры с определенными морфологическими характеристиками.

Для анализа получаемых структур, программа SIAMS-CP Multiscale Modeling интегрируется с аналитической системой автоматизированного анализа изображений SIAMS-CP Nanotech.

Объекты моделирования

• Наноструктурированные ансамбли органических, металлических и полупроводниковых частиц
• Коллоидные частицы сферической и асимметричной формы
• Микрокапли водных суспензий наночастиц

Специализированные решения SIAMS-CP Multiscale Modeling

	NanoPack. Конструирование и производство наноматериалов и композитов
	NanoSinter. Наноспекание и получение керамики
	GasFlow. Протекание газа через мембрану
	NanoSensors. Конструирование хемосенсоров
Дополнительные модули
	FluidFlow. Протекание жидкостей через упаковки
	Reconstruction. Реконструкция трехмерной структуры материалов
	Multiphase FluidFlow. Моделирование процессов многофазной фильтрации
	Atomic Sinter. Моделирование спекания на атомарном уровне

* Комплекс SIAMS-CP Multiscale Modeling является результатом интеграции разработок Центра фотохимии РАН, компаний SIAMS и Smart Imaging Technologies (USA).