Главная > Продукты > SIAMS-CP Nanotech > Программная часть

Решения по автоматизированному анализу изображений

Комплекс SIAMS-CP Nanotech включает большой набор решений для анализа изображений. Специализированные решения позволяют анализировать изображения различных видов нано и микроструктур, полученных методами сканирующей электронной микроскопии, просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, конфокальной и оптической микроскопии и др.

Наноуровень

• SIAMS-CP Nanotubes  - автоматизированный анализ нанотрубок
• SIAMS-CP Nanofilms - автоматизированный анализ нанопленок, нанопокрытий
• SIAMS-CP Self-Assembly - автоматизированный анализ закономерностей самоорганизации
• SIAMS-CP Nanoparticles -  автоматизированный анализ наноразмерных частиц
• SIAMS-CP Nanodispersion - автоматизированный анализ кластеров и диспергированных систем
• SIAMS-CP NanoSemi -  автоматизированный анализ наноструктур для полупроводниковой промышленности
• SIAMS-CP NanoBio -  автоматизированный анализ наноразмерных биообъектов
• SIAMS-CP SPM - автоматизированный анализ наноразмерных структур, полученных со сканирующего зондового микроскопа

Микро и мезоуровни

• SIAMS-CP Surface - автоматизированный анализ шероховатости поверхности и визуализация сложных поверхностей
• SIAMS-CP Grain - автоматизированный анализ зеренных структур
• SIAMS-CP Phase - автоматизированный фазовый анализ материалов
• SIAMS-CP Porosity - автоматизированный анализ пористости материалов
• SIAMS-CP Layers - автоматизированный анализ слоев и покрытий
• SIAMS-CP Granulometry - автоматизированный граунолометрический анализ
• SIAMS-CP Inclusions - автоматизированный анализ включений

Multiscale Data Center
Специализированная база данных для аналитического управления многомасштабной информацией.