|
Группа решений предназначена для автоматизированного анализа изображений
структуры наноплёнок и нанопокрытий, полученных методами ПЭМ и РЭМ микроскопии.
Анализ производится по произвольному числу полей зрения с накоплением и
статистической обработкой результатов.
Пользователь имеет возможность производить настройку параметров обработки
изображения на каждом этапе обработки, а также проводить коррекцию выделенных и
классифицированных объектов.
После выполнения методики автоматически генерируется отчёт в формате MS Word, который включает в себя результаты анализа (таблицы, графики и примеры
изображений микроструктуры). Форма отчёта может быть изменена в соответствии с
запросами пользователя.
Анализ квазирегулярных решёток (РЭМ)
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом
растровой электронной микроскопии (РЭМ).
Измеряемые параметры
 |
Образующие решётки (первая, вторая и третья)
- длина
- СКО длины
- угол
- СКО угла
- координаты узла |
|
|
Полиэдры Вороного
- распределение площадей полиэдров
- Распределение периметров полиэдров |
|
|
Искажение потенциалов
- распределение углов
- распределение длин
- распределение площадей |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Карта потенциалов |
Гистограмма распределения
площадей искажений потенциалов |
наверх
Анализ квазирегулярных решёток (ПЭМ)
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом просвечивающей
электронной микроскопии (ПЭМ).
Измеряемые параметры
|
|
Образующие решётки (первая, вторая и третья)
- длина
- СКО длины
- угол
- СКО угла
- координаты узла |
|
|
Полиэдры Вороного
- распределение площадей полиэдров
- Распределение периметров полиэдров |
|
|
Искажение потенциалов
- распределение углов
- распределение длин
- распределение площадей |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Полиэдры Вороного |
Гистограмма распределения площадей полиэдров |
наверх
|
