|
Группа решений предназначена для автоматизированного анализа изображений
структуры одностенных и многостенных углеродных нанотрубок, полученных методами
ПЭМ, РЭМ и АСМ микроскопии.
Анализ производится по произвольному числу полей зрения с накоплением и
статистической обработкой результатов.
Пользователь имеет возможность производить настройку параметров обработки
изображения на каждом этапе обработки, а также проводить коррекцию выделенных и
классифицированных объектов.
После выполнения методики автоматически генерируется отчёт в формате MS Word,
который включает в себя результаты анализа (таблицы, графики и примеры
изображений микроструктуры). Форма отчёта может быть изменена в соответствии с
запросами пользователя.
Анализ диаметров нанотрубок
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом просвечивающей
электронной микроскопии (ПЭМ).
Измеряемые параметры
 |
Число измеренных трубок |
|
|
Характеристики диаметров
- максимальное значение
- минимальное значение
- среднее значение
- СКО
- геометрическое среднее
- гистограмма распределения |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Выделенные трубки |
Гистограмма распределения значений диаметра |
наверх
Анализ толщины и ориентации нановолокон
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом
растровой электронной микроскопии (РЭМ).
Измеряемые параметры
|
|
Объёмная доля волокон |
|
|
Количество волокон |
|
|
Толщина
- максимальное значение
- минимальное значение
- среднее значение
- медианное значение
- СКО
- геометрическое среднее
- гистограмма распределения |
|
|
Ориентация
- гистограмма распределения
- преимущественная ориентация |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Выделенные волокна |
Гистограмма распределения значений толщины
волокон |
наверх
Определение длины, толщины, изогнутости и соотношения
размеров нанотрубок
Объект исследования
Для анализа используются данные, полученные с атомно-силового
микроскопа.
Измеряемые параметры
Для трубок и волокон определяются следущие параметры:
|
|
Длина (L) |
|
|
Толщина (H) |
|
|
Соотношение L/H |
|
|
Кривизна |
Для каждого параметра определяется минимальное, среднее,
максимальное, медианное значение и СКО, а также строится гистограмма
распределения Для частиц определяется:
|
|
Длина (L) - минимальное, среднее, максимальное, медиана, СКО,
гистограмма распределения |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Выделенные объекты |
Гистограмма распределения толщины трубок |
наверх
Анализ структуры многостенных нанотрубок
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом просвечивающей
электронной микроскопии (ПЭМ).
Измеряемые параметры
|
|
Количество стенок |
|
|
Расстояния между стенками
- минимальное
- максимальное
- среднее
- медиана
- СКО |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Процедура измерения |
Гистограмма распределения расстояний |
наверх
Анализ степени загрязнённости нанотрубок
Объект исследования
Анализ проводится по изображению, полученному методом просвечивающей
электронной микроскопии (ПЭМ).
Измеряемые параметры
|
|
Количество частиц |
|
|
Максимальный размер |
|
|
Минимальный размер |
|
|
Средний размер |
|
|
Медианное значение размера |
|
|
СКО значений размера |
|
|
Гистограмма распределения размеров |
Пример анализа
 |
 |
 |
| Исходное изображение |
Выделенные частицы |
Гистограмма распределения размеров частиц |
наверх
|
