Главная > Области применения > Галерея решений > Решения для нанотехнологий > SIAMS-CP Self-Assembly

Области применения
Материаловедение
Нанотехнологии
Петрография и минералогия
Биомедицина
Моделирование
Распознавание символов
Галерея решений
Решения для материаловедения
Решения для нанотехнологий
Решения для петрографии
Решения для биомедицины

SIAMS-CP Self-Assembly: автоматизированный анализ закономерностей самоорганизации

Анализ квазирегулярных решёток (РЭМ)
Анализ квазирегулярных решёток (ПЭМ)
Анализ доменов самоорганизации

Группа решений для анализа характеристик упорядоченности систем объектов. Решения производят определение параметров идеальной решетки и величины отклонений от нее характеристик реальной структуры (оценка степени искажений решетки), а также анализ доменов самоорганизации. Для анализа доступны изображения с микроскопов АСМ, ПЭМ, РЭМ.

Анализ производится по произвольному числу полей зрения с накоплением и статистической обработкой результатов.

Пользователь имеет возможность производить настройку параметров обработки изображения на каждом этапе обработки, а также проводить коррекцию выделенных и классифицированных объектов.

После выполнения методики автоматически генерируется отчёт в формате MS Word, который включает в себя результаты анализа (таблицы, графики и примеры изображений микроструктуры). Форма отчёта может быть изменена в соответствии с запросами пользователя.

Анализ квазирегулярных решёток (РЭМ)

Объект исследования

Анализ проводится по изображению, полученному методом растровой электронной микроскопии (РЭМ).

Измеряемые параметры

bullet Образующие решётки (первая, вторая и третья)
- длина
- СКО длины
- угол
- СКО угла
- координаты узла
bullet Полиэдры Вороного
- распределение площадей полиэдров
- Распределение периметров полиэдров
bullet Искажение потенциалов
- распределение углов
- распределение длин
- распределение площадей

Пример анализа

Исходное изображение Карта потенциалов Гистограмма распределения площадей искажений потенциалов

наверх

Анализ квазирегулярных решёток (ПЭМ)

Объект исследования

Анализ проводится по изображению, полученному методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ).

Измеряемые параметры

bullet Образующие решётки (первая, вторая и третья)
- длина
- СКО длины
- угол
- СКО угла
- координаты узла
bullet Полиэдры Вороного
- распределение площадей полиэдров
- Распределение периметров полиэдров
bullet Искажение потенциалов
- распределение углов
- распределение длин
- распределение площадей

Пример анализа

Исходное изображение Полиэдры Вороного Гистограмма распределения площадей полиэдров

наверх

Анализ доменов самоорганизации

Объект исследования

Для анализа используются данные, полученные с атомно-силового микроскопа.

Измеряемые параметры

bullet Число доменов самоорганизации
bullet Параметры решётки в каждом из доменов
- распределение длин образующих решётки
- распределение углов между образующими

Пример анализа

Исходное изображение

Домены самоорганизации

Гистограмма распределения длин образующих решётки в 1 домене

наверх

 

© SIAMS, 2008