Главная > Области применения > Галерея решений > SIAMS-CP Surface

Области применения
Материаловедение
Нанотехнологии
Петрография и минералогия
Биомедицина
Моделирование
Распознавание символов
Галерея решений
Решения для материаловедения
Решения для нанотехнологий
Решения для петрографии
Решения для биомедицины

SIAMS-CP Surface. Автоматизированный анализ шероховатости поверхности и визуализация сложных поверхностей

Группа решений предназначена для автоматизированного анализа шероховатости поверхности и 3D визуализации поверхностей. Решения предназначены для работы с зондовыми микроскопами.

В группу входят автоматизированные решения анализа шероховатости поверхности как по профилю, так и по всей поверхности. Также в группу входит инструмент для трехмерной визуализации поверхностей.

Анализ производится по произвольному числу полей зрения с накоплением и статистической обработкой результатов.

Пользователь имеет возможность производить настройку параметров обработки изображения на каждом этапе обработки, а также проводить коррекцию.

Дополнительно имеется возможность 3D визуализации поверхности. Полученную поверхность можно поворачивать, менять освещение и многое другое.

После выполнения методики автоматически генерируется отчёт в формате MS Word, который включает в себя результаты анализа (таблицы, графики и примеры изображений микроструктуры). Форма отчёта может быть изменена в соответствии с запросами пользователя.

Измеряемые параметры

маркированный список Средняя шероховатость
маркированный список Среднеквадратичная шероховатость
маркированный список Шероховатость пиков
маркированный список Шероховатость впадин
маркированный список Общая шероховатость
маркированный список Ассиметрия
маркированный список Эксцесс

Дла каждого параметра определяется среднее, минимальное, максимальное значение, СКО, медиана, размах.

Пример анализа
 
Исходное изображение Построение профиля шероховатости 3D визуализация поверхности

SIAMS-CP Surface. Решения автоматизированного анализа шероховатости поверхности

Наноуровень

Анализ шероховатости линий
 
 

© SIAMS, 2008