Система панорамной микроскопии с ручным управлением SIAMS MT

Позволяет создавать панорамные изображения с помощью ручного управления столиком микроскопа. Управляющая программа SIAMS обрабатывает большие объемы графических данных и анализирует микроструктуру в соответствии с российскими и зарубежными стандартами в реальном времени. Возможен дистанционный доступ к рабочему месту через сеть.

Комплектация

Оптический микроскоп с ручным управлением и видеокамерой

Производители микроскопов: Olympus, Leica, Nikon, Zeiss, Meiji, SIAMS и др.
Типы: прямой, инвертированный или стереомикроскоп.
Методы исследования в проходящем и отраженном свете: светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК.

Анализатор SIAMS 800

К микроскопу подключается вычислительная станция с пакетом программного обеспечения SIAMS 800 для панорамной съемки. Панорамная съемка сопровождается автоматической коррекцией неравномерности освещенности и вычислением объектов измерения, что позволяет предварительно оценить структуру без применения специальных методик анализа.
SIAMS 800 позволяет строить качественные панорамные изображения путем сканирования без захвата отдельных кадров, благодаря непрерывному анализу видеосигнала. Это позволяет исключить дефекты, свойственные традиционным панорамным изображениям, приводящие к ошибкам в оценке структурных составляющих.
Узнать подробнее

Комплект методик анализа SIAMS 800

Специальное программное обеспечение для автоматизированного анализа микроструктуры в соответствии со стандартами ГОСТ, ASTM, EN, DIN, ISO и др.
Узнать подробнее

Метрологическое обеспечение

Система панорамной микроскопии SIAMS — надежное и точное средство измерения. Прибор является поверяемым средством измерения утвержденного типа и включен в госреестр средств измерений за №27438-10 как «Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел» (Свидетельство RU.C.31.058.A № 40862. Соответствует ТУ 4317-001-12285114-2004).

Производится прецизионная градуировка прибора с помощью встроенного программного модуля, который:

• производит автоматический расчет размера пикселя в горизонтальном и вертикальном направлениях не менее, чем по 20 измерениям для каждого фиксированного состояния системы ввода;
• производит автоматический расчет погрешности процедур градуировки и поверки и автоматический контроль расчетного значения погрешности;
• формирует и хранит протокол по проведенным процедурам;
• автоматически сохраняет список масштабов и защищает его от случайного изменения.

Поставка систем панорамной микроскопии SIAMS сопровождается следующими документами:

• Свидетельство об утверждении типа средств измерений
• Свидетельство об аттестации программного обеспечения средств измерений
• Утвержденная методика поверки
• Свидетельство о первичной поверке прибора
• Свидетельство о поверке объект-микрометра
• Руководство по эксплуатации
• Технический паспорт

Видео

Публикации

• Системы панорамной микроскопии для металлографического анализа. Кадушников Р.М., Козерчук А.Л., Петров М.С., Рябков М.С., Сивкова Т.А., Сомина С.В., Сыропятов А.С., Рыжков М.А.// Металлургия машиностроения 2016 №3
• Особенности контроля микроструктуры графита в чугунах автоматическими методами. Сивкова Т.А., Гусев А.О., Губарев С.В., Самойлова А.Ю., Кадушников Р.М.// Металлургия машиностроения 2018 №2

Если вы хотите купить систему панорамной микроскопии SIAMS MT, свяжитесь со специалистами компании SIAMS: info@siams.com.