Мера длины штриховая высокоточная МШВ-О
Мера длины штриховая высокоточная МШВ-О предназначена для градуировки оптической системы микроскопов и стереомикроскопов, определения масштабов изображений, получаемых с помощью планшетных сканеров и проекторов.
МШВ-О внесена в Государственный реестр средств измерений. Свидетельство об утверждении типа средств измерений ОС.С.27.007.А №58088
Изготовитель: ООО "СИАМС"
Метрологические характеристики МШВ-О
| Длина шкалы в диапазоне 0‐80 мм, мм | 80±0,004 | |
| Длина шкалы в диапазоне 0‐30 мм, мм | 30±0,0009 | |
| Ширина штрихов шкалы в диапазоне 0‐80 мм, мм | 0,1±0,015 | |
| Ширина штрихов шкалы в диапазоне 0‐30 мм, мм | 0,01±0,0015 | |
| Предел допускаемой основной абсолютной
погрешности шкалы в диапазоне 0‐80 мм, мкм | ±1 | |
| Предел допускаемой основной абсолютной
погрешности шкалы в диапазоне 0‐30 мм, мкм | ±0,2 |
Объект‐микрометр предназначен для работы на увеличениях от 50 крат до 1000 крат и более. В этом диапазоне его шкала видна достаточно четко. На малых увеличениях, менее 40 крат, шкала объект‐микрометра трудно различима. Градуировка микроскопа по такой шкале приводит к значительной систематической погрешности при измерениях параметров структуры. Поскольку стереомикроскоп может иметь диапазон увеличений от 3 крат, для получения точных результатов измерений необходимо использовать меру длины МШВ‐О.
