Участие в конференции "Новые материалы и технологии: порошковая металлургия, композиционные материалы, защитные покрытия, сварка"
16-я Международная конференция проходила с 22 по 24 мая 2024 г. в Институте порошковой металлургии имени академика О.В.Романа НАН Беларуси.
Руководитель Инжинирингового центра компании SIAMS Татьяна Сивкова выступила с докладом "Автоматизированный анализ изображений структуры материалов с использованием компьютерных технологий SIAMS".
Автоматизированные программные решения для анализа структуры материалов применяются не только в целях ускорения лабораторного контроля, но и для минимизации ошибки возникающей за счет человеческого фактора. На сегодняшний день в библиотеке программных продуктов SIAMS существует более 150 методик для автоматизированного анализа макро- и микроструктуры конструкционных и функциональных материалов по различным стандартам. В том числе активно применяются алгоритмы для контроля параметров порошковых материалов, композитов, сварных соединений, слоев и покрытий. Они позволяют анализировать изображения, полученные методами световой и электронной микроскопии. Кроме того, для анализа «сложных» изображений созданы модули, основанные на технологии нейросетей SIAMS AIM, которые позволяют определять структурные элементы, слабоконтрастные к фону, а также объекты на изображениях с дефектами съемки или пробоподготовки.
Руководитель Инжинирингового центра компании SIAMS Татьяна Сивкова выступила с докладом "Автоматизированный анализ изображений структуры материалов с использованием компьютерных технологий SIAMS".
Автоматизированные программные решения для анализа структуры материалов применяются не только в целях ускорения лабораторного контроля, но и для минимизации ошибки возникающей за счет человеческого фактора. На сегодняшний день в библиотеке программных продуктов SIAMS существует более 150 методик для автоматизированного анализа макро- и микроструктуры конструкционных и функциональных материалов по различным стандартам. В том числе активно применяются алгоритмы для контроля параметров порошковых материалов, композитов, сварных соединений, слоев и покрытий. Они позволяют анализировать изображения, полученные методами световой и электронной микроскопии. Кроме того, для анализа «сложных» изображений созданы модули, основанные на технологии нейросетей SIAMS AIM, которые позволяют определять структурные элементы, слабоконтрастные к фону, а также объекты на изображениях с дефектами съемки или пробоподготовки.