Промышленные инспекционные микроскопы предназначены для контроля поверхности кремниевых пластин различного размера, печатных плат, полупроводниковых материалов и пр. Благодаря эргономично выполненной конструкции и оптической системе высокой четкости микроскопы идеально подходят для профессионального анализа поверхности материалов и изделий полупроводниковой промышленности и микроэлектроники.
Оптический микроскоп, оснащенный программным обеспечением для анализа изображений SIAMS, является поверяемым средством измерения и включен в госреестр средств измерений.
Все микроскопы имеют гарантию 1 год.
Сервисная служба компании SIAMS окажет полный цикл услуг от ввода микроскопа в эксплуатацию до его регламентного технического обслуживания и дооснащения.